6月17日，国家新能源汽车技术创新中心（简称“国创中心”）与武汉菱电汽车电控系统股份有限公司（简称“菱电电控”）共同揭牌成立“汽车芯片测评协同联合实验室”。国创中心主任、总经理原诚寅与菱电电控董事长、总经理王和平现场见证签约，国创中心汽车芯片群业务单元负责人刘英与菱电电控副总经理、总工程师石奕分别代表双方签署协议。
此次联合实验室的成立，是国创中心与菱电电控在车规级芯片领域深化合作的重要标志。联合实验室将在车用芯片选型、芯片测评、基于国产芯片的控制器测评、汽车芯片失效分析和汽车芯片质量管理体系建设等方面开展全面合作。未来更好地为汽车行业服务，共同推进新能源汽车关键共性技术创新生态圈建设。
同日，现场进行了菱电电控对国创中心第三方认可实验室的揭牌仪式，认可范围涵盖AEC-Q系列汽车芯片和功率器件可靠性测试，AQG324功率模块测试等。
展望未来，国创中心与菱电电控将继续携手共进，以联合实验室为纽带，认可实验室为抓手，深化技术合作与资源共享，共同推动车规芯片测试认证技术的创新发展。双方将秉承开放、合作、共赢的理念，与业界伙伴携手并肩，共同开创汽车芯片技术的新篇章，为汽车产业的繁荣发展贡献更多力量。
